品牌: | 惠普 | HPHP4278A電容計Agilent4278A測量速度:6.5ms/10ms/21ms測量參數:C-D,Q,ESR,G C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 0.05%,0.0002(1MHz,21ms)Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的精密測試儀器，用于生產(chǎn)線(xiàn)和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠(chǎng)檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容器的測試效率（可測量以200μF，這個(gè)電容量能容納多數陶瓷和薄膜電容器的數據值）。技術(shù)指標：測量參數C-D，Q，ESR，G測試信號頻率：1kHz和1MHz±0.02%信號電平：0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)測量時(shí)間：6.5ms/10ms/21ms(典型值）測量范圍測量參數1kHz1MHz正常模式1MHz高精度C0.01pF~200.000μF0.00001pF~1280.00pF 0.00004pF~2663.00pFD0.00001~9.999990.00001pF~9.99999 0.00001pF~0.99999 電纜長(cháng)度補償0,1或2m比較器：對電容的10倉室分類(lèi)，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試存儲卡插槽外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進(jìn)行分類(lèi)和調用（存儲卡可任選，參見(jiàn)下面的選件004）。  技術(shù)指標：測量參數C-D，Q，ESR，G測試信號頻率：1kHz和1MHz±0.02%信號電平：0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)測量時(shí)間：6.5ms/10ms/21ms(典型值）測量范圍測量參數1kHz1MHz正常模式1MHz高精度 電纜長(cháng)度補償0,1或2m比較器：對電容的10倉室分類(lèi)，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試存儲卡插槽外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進(jìn)行分類(lèi)和調用（存儲卡可任選，參見(jiàn)下面的選件004）。 一般技術(shù)指標：工作溫度/濕度  5°~45℃，在40℃時(shí)相對濕度為95%  •4278A 1kHz/1MHz電容測試儀  Opt W30 擴大的維修服務(wù)  Opt 001 只1kHz測試頻率  Opt 002 只1MHz測試頻率  Opt 003 1%的頻率漂移；電源  100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V  Amax尺寸  約426mm(寬）*177mm(高）*498mm(長(cháng)）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)重量：  約15kg(33磅，標準）